Waygate Technologies (ранее GE Inspection Technologies)
€
€
Отправить заявку
v|tome|x m — многоцелевая рентгеновская микрофокусная КТ-система для 3D метрологии и анализа с напряжением/мощностью 240 кВ/320 Вт или 300 кВ / 500 Вт . Система позволяет распознавать детали размером менее 1 мкм, что выводит ее в лидеры индустрии среди компактных систем с трубкой 300 кВ.
Микрофокусная трубка опционально может оснащаться новой разработкой компании GE высокопоточной мишенью, позволяющей до 2 раз увеличить производительность системы, либо проводить сканирования с удвоенным разрешением.
Система может оснащаться дополнительной нанофокусной трубкой, использование 2-х трубок позволяет значительно повысить универсальность и получать детальную 3D-информацию для широчайшего диапазона образцов.
Наличие детектора нового поколения с размером пикселя 100 мкм, программной опции для автоматизированного процесса сканирования и возможность оснащения роботом: позволяют применять систему для потокового КТ-контроля. При этом процесс контроля будет полностью автоматизирован, начиная от загрузки образцов, с дальнейшим подбором параметров сканирования, выполнением сканирования, обработкой 3D-модели и заканчивая выводом отчета по заданной форме.
M240/m300 является первой промышленной КТ-системой, оснащенной технологией коррекции рассеянного рентгеновского излучения, что особенно важно для контроля сильнопоглощающих изделий на основе железа, никеля, например, турбинных лопаток. Данная технология представляет собой программно-аппаратный комплекс, который в автоматизированном режиме убирает артефакты рассеянного излучения из 3D-модели, что позволяет получать лучшие результаты в сравнении с обычной томографией на плоскопанельный детектор.
Сферы применения
Анализ внутренних дефектов/количественный анализ пор;
Контроль качества сборки изделий;
Анализ структуры материалов;
Метрологические измерения с точностью 4 мкм + L[мм]/100;
Сравнение с CAD-данными;
Обратный инжиниринг;
Анализ толщины стенок.
Ключевые особенности
Первая компактная 300 кВ микрофокусная КТ система с возможностью определения деталей размером менее 1 мкм.
Максимальное увеличение для 300 кВ систем при исследовании сильнопоглощающих образцов.
Высокая мощность даже на максимальном ускоряющем напряжении.
Возможность применения долговечных катодов со сроком службы до 10 раз больше в сравнении с обычными.
Уникальная возможность использования двух трубок (dual|tube) для проведения как микро-КТ сильнопоглащающих образцов, так и нано-КТ высокого разрешения.
Использование высокопоточной мишени для получения результатов с удвоенным разрешением, либо уменьшением времени сканирования до 2-х раз.
Технология коррекции рассеянного рентгеновского излучения, позволяющая значительно улучшить результаты КТ-сканирования.
Новый детектор din 41|100: увеличение производительности в 2 раза, либо удвоенное разрешение за одинаковое время сканирования, в сравнении со стандартным 200 мкм детектором DXR250.
Возможность сканирования в полностью автоматизированном режиме.